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[自動試験装置(ATE)]
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キーワード: ケーブル損失, 表皮効果, 誘電損失, 自動試験装置, ATE, 電子補償, 等化, ピンエレクトロニクス, 帯域幅減少, ケーブルドループ, オーバシュート電圧, コンパレータ, 半剛体, セミリジット, RG58C, RG174, PMU, 1Gbps, 1000Mbps, 2000Mbps
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関連製品
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APP 4338: May 01, 2009
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ダウンロード、PDFフォーマット(102kB)
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| アプリケーションノート 4338
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ケーブル損失ソリューション |
| 筆者:Bernard Hyland |
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