DS2174 EBERT

概要

技術資料

オーダー情報

関連製品

ユーザのコメント (0)

すべて表示

ステータス 入手可能：生産中 製品概要 最新ビットエラーレートテスタ(EBERT) のDS2174は、ディジタル伝送設備の最も厳しいエラー性能要件を満たすことができるソフトウェアプログラマブルなテストパターン発生器、レシーバ、およびアナライザです。このデバイスは、ビットシリアル、ニブルパラレル、およびバイトパラレルのデータインタフェースが特長で、2n - 1形式の擬似ランダムパターンを発生し、これに一意的に同期して動作します。ここで、nは、1～32の値をとり、最大512オクテットの任意長の、ユーザ定義の繰返しパターンです。

データシート 英語 ダウンロードする Rev 1 (PDF, 272kB)   Eメール

主な特長 ディジタル通信システムの解析とトラブルシューティングを行なうためのディジタルパターンの発生と検 最大232 - 1の任意の擬似ランダムパターンを発生するためのプログラマブルな多項式の長さとフィードバックタップ ; 最大32タップをフィードバック経路に使用可能 最大512バイト長の長い繰返しパターン用のプログラマブルなユーザ定義のパターンレジスタ 48ビットカウント/ビットエラーカウントの大容量レジスタ ソフトウェアプログラマブルなビットエラー挿入 完全に独立した送信経路と受信経路 8ビットパラレル制御ポート 最大10-2のビットエラーレート存在状態での多項式テストパターン検出 シリアル、4ビットパラレル、または8ビットパラレルのデータインタフェースに対してプログラム可能 シリアルモードのクロックレートは155MHz ; バイトモードではネット622Mbpsで80MHz ; OC-3 44ピンPLCC

図

その他の情報

新製品プレスリリース

[ 2002-05-13 (English only) ]

お探しの製品が見つかりませんか？

情報インデックス

Rev 1; 2002-09-13
このページの最終更新日： 2010-01-11