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高周波ASIC
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試験および計測用ASIC
20年以上の間、マキシムのバイポーラおよびBiCMOSプロセスは、高精度かつ高度な高周波試験および計測用アプリケーションに適した幅広い開発能力を提供してきました。プロセスにはいくつかの選択肢があり、超高速NPN、相補型高速バイポーラ、および高速バイポーラ + CMOSがあります。これらの各プロセスは市場のニーズに合わせて調整されます。
上記プロセスのすべてにおいて、非常に安定したマキシムの薄膜ニクロム抵抗が利用できます。これらの技術は、マキシムのニクロムレーザトリム機能と組み合わせることによって、ゲイン、オフセット、インタフェースのインピーダンス、チャネル間マッチングの高精度制御など、多くの他の高精度調整が可能になります。
アプリケーション
- 高速自動試験システム
- スペクトラムアナライザ
- 波形生成器およびアナライザ
- プログラマブル広帯域リニアアンプ
- データコンバータおよびエンコーダ/デコーダ
集積化に適した一般的なブロック：
オシロスコープまたは波形レコーダ
マキシムのCB-2コンプリメンタリバイポーラプロセスを使用したATEアプリケーション向けのピンエレクトロニクスASIC
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