試験および計測用ASIC

20年以上の間、マキシムのバイポーラおよびBiCMOSプロセスは、高精度かつ高度な高周波試験および計測用アプリケーションに適した幅広い開発能力を提供してきました。プロセスにはいくつかの選択肢があり、超高速NPN、相補型高速バイポーラ、および高速バイポーラ + CMOSがあります。これらの各プロセスは市場のニーズに合わせて調整されます。

上記プロセスのすべてにおいて、非常に安定したマキシムの薄膜ニクロム抵抗が利用できます。これらの技術は、マキシムのニクロムレーザトリム機能と組み合わせることによって、ゲイン、オフセット、インタフェースのインピーダンス、チャネル間マッチングの高精度制御など、多くの他の高精度調整が可能になります。

アプリケーション

  • 高速自動試験システム
  • スペクトラムアナライザ
  • 波形生成器およびアナライザ
  • プログラマブル広帯域リニアアンプ
  • データコンバータおよびエンコーダ/デコーダ

集積化に適した一般的なブロック:

オシロスコープまたは波形レコーダ
オシロスコープまたは波形レコーダ
マキシムのCB-2コンプリメンタリバイポーラプロセスを使用したATEアプリケーション向けのピンエレクトロニクスASIC
マキシムのCB-2コンプリメンタリバイポーラプロセスを使用したATEアプリケーション向けのピンエレクトロニクスASIC


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