信頼性モニタプログラム(Q1 2008)

製品別プロセス信頼性レポート索引(PDF, 507kB, English only)を参照してください。 ストレステスト 前処理 高温動作 高温保存 温度サイクル 高温高湿バイアス 書込みサイクル/データ保持 パッケージ品質 プロセス信頼性 Chartered 0.35µm Silicon Gate CMOS DAL 0.35µm Silicon Gate CMOS DAL 0.35µm "D" Silicon Gate CMOS DAL 0.6µm Silicon Gate CMOS DAL 0.8µm Silicon Gate CMOS DAL B8 Silicon Gate CMOS MELEXIS Standard Metal Gate MFN Dual Poly 0.8µm CMOS MFN Dual Poly NPN Bipolar MFN 1.2µm Silicon Gate CMOS MFN 1.2µm High Voltage BiCMOS MFN 3µm Silicon Gate CMOS MFN 5µm Silicon Gate CMOS MFN 80V Bipolar CMOS DMOS MFN Poly Emitter Complementary Bipolar MFN SiGe HBT CMOS MFN Standard Metal Gate CMOS SAT 0.4µm Silicon Gate CMOS SAT 0.8µm Silicon Gate CMOS w/memory SAT 1.2µm Silicon Gate CMOS SVL 0.4µm Silicon Gate CMOS SVL 0.6µm Silicon Gate CMOS SVL 0.8µm Silicon Gate CMOS SVL 1.2µm Silicon Gate CMOS SVL SiGe HBT 0.35µm CMOS TSMC 0.18µm Silicon Gate CMOS TSMC 0.35µm Silicon Gate CMOS TSMC 0.5µm Silicon Gate CMOS アセンブリ信頼性 BGAモジュール カートリッジ CSBGA CSP Dongle フリップチップ iButton LGA LQFP モジュール MQFP PBGA PDIP PLCC Power Cap QFN QSOP SC70 SipStik SOIC SOT SSOP TO TQFP TSOC TSSOP µSOP 製品別プロセス信頼性レポート索引(PDF, 507kB, English only)を参照してください。