
品質保証および信頼性の概要

品質方針

信頼性情報
	一般的な信頼性レポート (English only)
	製品の信頼性レポート
	鉛フリーパッケージの錫(Sn)ウィスカレポート
	信頼性モニタプログラム (English only)
	マキシム製品のFIT情報
	マキシム：製品信頼性仕様(10-3006) (PDF, 54K, English only)

不良解析

品質保証

一般情報

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参照：環境管理および材料についての情報(EMMI)

鉛フリー対応型番検索と成分データ

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信頼性モニタプログラム(Q4 2011)

製品別プロセス信頼性レポート索引(PDF, 888kB, English only)をご参照ください。
ストレステスト
	前処理
	高温動作
	高温保存
	温度サイクル
	高温高湿バイアス
	書込みサイクル/データ保持
	パッケージ品質
プロセス信頼性
	Cypress RAM (CYP-RAM)
	Dallas 0.6µm Silicon Gate CMOS (E6)
	Epson MBiC3 0.35µm CMOS (MB3)
	Epson 0.4µm Silicon Gate CMOS (S4)
	Epson Silicon Gate CMOS (S18)
	FAB-101 Silicon Gate CMOS (S18)
	Fab-7 0.4µm Silicon Gate CMOS (S4)
	Hybrid
	MFN 3.0µm Silicon Gate CMOS (B3)
	MFN 0.8µm Silicon Gate CMOS (B8)
	MFN 1.2µm Silicon Gate CMOS (B12)
	MFN 80V Bipolar CMOS DMOS (BCD88)
	MFN 250V Bipolar CMOS DMOS (BCD250)
	MFN 0.8µm Silicon Gate CMOS (C3)
	MFN Poly Emitter Complementary Bipolar (CB20)
	MFN Complementary BiCMOS (CB30)
	MFN Poly Emitter Complementary Bipolar (CB40)
	MFN Poly Emitter Complementary Bipolar (CB50)
	MFN Dual Poly NPN Bipolar (GST20)
	MFN SiGe HBT BiPolar (GST30)
	MFN SiGe HBT 0.5µm CMOS (GST40)
	MFN 1.2µm CBiCMOS (HV3)
	MFN Standard Metal Gate CMOS (M5)
	MFN Dual Poly 0.8µm BiCMOS (MB10)
	MFN 3.0µm Silicon Gate CMOS (S3)
	Renesas SRAM (REN-SRAM)
	San Antonio 0.8µm Silicon Gate CMOS (B8)
	San Antonio 0.6µm Silicon Gate CMOS (E6)
	San Antonio 0.4µm Silicon Gate CMOS (4E35)
	San Antonio 0.5µm Silicon Gate CMOS (5E35)
	San Antonio 0.8µm EEPROM Silicon Gate CMOS (EB8)
	San Antonio 0.8µm Silicon Gate CMOS (EC8)
	San Antonio 0.4µm Silicon Gate CMOS (S4)
	San Antonio Silicon Gate CMOS (S18)
	TSMC 0.13µm Silicon Gate CMOS (TS13)
	TSMC 0.18µm Silicon Gate CMOS (TS18)
	TSMC 0.25µm Silicon Gate CMOS (TS25)
	TSMC 0.35µm Silicon Gate CMOS (TS35)
	TSMC 0.5µm Silicon Gate CMOS (TS50)
	TSMC 12 General Purpose 65nm logic (TS065)
	X3 0.6µm Silicon Gate CMOS (C6)
	X3 SiGe HBT 0.35µm BiCMOS (MB3)
	X3 Passive Chip Technology (PAC)
	X3 0.4µm Silicon Gate CMOS (S4)
	X3 0.6µm Silicon Gate CMOS (S6)
	X3 0.18µm Silicon Gate CMOS (S18)
	X3 50µm TSV Process Flow for Stack Die (TSV)
アセンブリ信頼性
	CSBGA
	LGA
	LQFP
	Metal Can
	PDIP
	PLCC
	QFN
	QSOP
	SC70
	SOIC
	SOT
	SSOP
	TO
	TQFP
	TSSOP
	µMAX
	WLP
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