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ステータス

入手可能：生産中

データシート

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製品概要

不揮発性RAMコントローラMXD1210は超低電力CMOS回路であり、標準(揮発性) CMOS RAMを不揮発性メモリに変換します。この製品は常に電源を監視し、RAMへの供給電力が許容範囲外になった場合にRAMに対する書込み保護を提供します。電源が低下し始めるとRAMは書込み保護され、このデバイスはバッテリバックアップモードに切り替わります。

主な特長		アプリケーション/用途
バッテリバックアップ メモリ書込み保護 動作モード時の自己消費電流：230µA バックアップモード時の自己消費電流：2nA バッテリフレッシュネスシール 冗長バッテリ(オプション) VCC電源スイッチの低順方向電圧ドロップ パワーフェイル検出オプション：5%または10% パワーアップ時のバッテリ状態をテスト 8ピンSOP入手可能		µP制御システム コンピュータ：デスクトップ、ワークステーション、サーバ 組込みシステム

図

標準動作回路

信頼性レポート

FITデータの表示： MXD1210 信頼性レポートの請求： MXD1210 (English only)

ソフトウェア/モデル

なし

オーダー情報

注： 製品購入のための方法およびリンク：http://japan.maxim-ic.com/sales 必要な情報が見つかりませんか？マキシムのアプリケーションエンジニアに質問してください。通常翌営業日以内に、製品を探すための専門的なお手伝いをします。 型番サフィックス：TまたはT&R = テープ&リール、 + = RoHS/鉛フリー、# = RoHS/鉛免除。詳細：フルデータシートまたはマキシム製品の型番の見方を参照。 *パッケージの中にはいくつかのバリエーションがあるものがあり、図面に記載されています。｢パッケージコード/バリエーション｣は製品が使用しているバリエーションを示しています。型番サフィックスにある「+」、「#」、「-」はRoHSステータスを表わすことに注意してください。パッケージ図面は異なるサフィックス文字を示すことがあります。

デバイス： 1-22 / 22

MXD1210	無料 サンプル	直接購入 (English Only)	ステータス	パッケージ： タイプ ピン数 実装面積   図面コード/バリエーション *	温度範囲	RoHS/鉛フリー 成分分析
MXD1210MJA			入手可能	CDIP(N)、8ピン、82.6mm² 図面： 21-0045 (PDF) ランドパターン： Not Applicable 使用パッケージコード/バリエーション：J8-2*	-55℃～+125℃	RoHS/鉛フリー：非対応 成分分析
MXD1210C/D			入手可能	DICE SALES、NAピン、0mm² ランドパターン： Not Applicable 使用パッケージコード/バリエーション：DICE*		データシートを参照
MXD1210CPA			入手可能	PDIP(N)、8ピン、79.7mm² 図面： 21-0043 (PDF) ランドパターン： Not Applicable 使用パッケージコード/バリエーション：P8-2*	0℃～+70℃	RoHS/鉛フリー：非対応 成分分析
MXD1210CPA+			入手可能	PDIP(N)、8ピン、79.7mm² 図面： 21-0043 (PDF) ランドパターン： Not Applicable 使用パッケージコード/バリエーション：P8+2*	0℃～+70℃	RoHS/鉛フリー：鉛フリー 成分分析
MXD1210EPA			入手可能	PDIP(N)、8ピン、79.7mm² 図面： 21-0043 (PDF) ランドパターン： Not Applicable 使用パッケージコード/バリエーション：P8-2*	-40℃～+85℃	RoHS/鉛フリー：非対応 成分分析
MXD1210EPA+			入手可能	PDIP(N)、8ピン、79.7mm² 図面： 21-0043 (PDF) ランドパターン： Not Applicable 使用パッケージコード/バリエーション：P8+2*	-40℃～+85℃	RoHS/鉛フリー：鉛フリー 成分分析
MXD1210CWE			入手可能	SOIC(W)、16ピン、111.8mm² 図面： 21-0042 (PDF) ランドパターン： 90-0107 (PDF) 使用パッケージコード/バリエーション：W16-1*	0℃～+70℃	RoHS/鉛フリー：非対応 成分分析
MXD1210CWE-T			入手可能	ランドパターン： 提供されていません	0℃～+70℃	データシートを参照
MXD1210CWE+			入手可能	SOIC(W)、16ピン、111.8mm² 図面： 21-0042 (PDF) ランドパターン： 90-0107 (PDF) 使用パッケージコード/バリエーション：W16+1*	0℃～+70℃	RoHS/鉛フリー：鉛フリー 成分分析
MXD1210CWE+T			入手可能	ランドパターン： 提供されていません	0℃～+70℃	データシートを参照
MXD1210EWE			入手可能	SOIC(W)、16ピン、111.8mm² 図面： 21-0042 (PDF) ランドパターン： 90-0107 (PDF) 使用パッケージコード/バリエーション：W16-1*	-40℃～+85℃	RoHS/鉛フリー：非対応 成分分析
MXD1210EWE-T			入手可能	ランドパターン： 提供されていません	-40℃～+85℃	データシートを参照
MXD1210EWE+			入手可能	SOIC(W)、16ピン、111.8mm² 図面： 21-0042 (PDF) ランドパターン： 90-0107 (PDF) 使用パッケージコード/バリエーション：W16+1*	-40℃～+85℃	RoHS/鉛フリー：鉛フリー 成分分析
MXD1210EWE+T			入手可能	ランドパターン： 提供されていません	-40℃～+85℃	データシートを参照
MXD1210CSA			入手可能	SOIC(N)、8ピン、30.9mm² 図面： 21-0041 (PDF) ランドパターン： 90-0096 (PDF) 使用パッケージコード/バリエーション：S8-4*	0℃～+70℃	RoHS/鉛フリー：非対応 成分分析
MXD1210CSA-T			入手可能	SOIC(N)、8ピン、30.9mm² 図面： 21-0041 (PDF) ランドパターン： 90-0096 (PDF) 使用パッケージコード/バリエーション：S8-4*	0℃～+70℃	RoHS/鉛フリー：非対応 成分分析
MXD1210CSA+			入手可能	SOIC(N)、8ピン、30.9mm² 図面： 21-0041 (PDF) ランドパターン： 90-0096 (PDF) 使用パッケージコード/バリエーション：S8+4*	0℃～+70℃	RoHS/鉛フリー：鉛フリー 成分分析
MXD1210CSA+T			入手可能	SOIC(N)、8ピン、30.9mm² 図面： 21-0041 (PDF) ランドパターン： 90-0096 (PDF) 使用パッケージコード/バリエーション：S8+4*	0℃～+70℃	RoHS/鉛フリー：鉛フリー 成分分析
MXD1210ESA			入手可能	SOIC(N)、8ピン、30.9mm² 図面： 21-0041 (PDF) ランドパターン： 90-0096 (PDF) 使用パッケージコード/バリエーション：S8-4*	-40℃～+85℃	RoHS/鉛フリー：非対応 成分分析
MXD1210ESA-T			入手可能	SOIC(N)、8ピン、30.9mm² 図面： 21-0041 (PDF) ランドパターン： 90-0096 (PDF) 使用パッケージコード/バリエーション：S8-4*	-40℃～+85℃	RoHS/鉛フリー：非対応 成分分析
MXD1210ESA+			入手可能	SOIC(N)、8ピン、30.9mm² 図面： 21-0041 (PDF) ランドパターン： 90-0096 (PDF) 使用パッケージコード/バリエーション：S8+4*	-40℃～+85℃	RoHS/鉛フリー：鉛フリー 成分分析
MXD1210ESA+T			入手可能	SOIC(N)、8ピン、30.9mm² 図面： 21-0041 (PDF) ランドパターン： 90-0096 (PDF) 使用パッケージコード/バリエーション：S8+4*	-40℃～+85℃	RoHS/鉛フリー：鉛フリー 成分分析

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