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製品概要

DS3045Wは、スタティックRAM、不揮発性(NV)コントローラ、2000年問題対応リアルタイムクロック(RTC)、および再充電可能な内蔵型マンガンリチウム(ML)バッテリで構成されています。これらの構成部品は、256ボールBGAの実装面積を持つ表面実装モジュールに収められています。VCCがモジュールに印加されているときは常に、MLバッテリは再充電され、クロックおよびSRAMは外部電源から給電されて、クロックレジスタやSRAMの内容を変更することができます。VCCがパワーダウンされるか、または許容範囲外になると、コントローラによってメモリ内容は書込み保護され、クロックおよびSRAMはバッテリから給電されます。また、DS3045Wは電源モニタ出力(/RST)とユーザプログラマブルな割込み出力(/IRQ/FT)も備えています。

主な特長		アプリケーション/用途
シングルピース、リフロー可能な実装面積27mm x 27mmのBGAパッケージ マンガンリチウムバッテリおよびチャージャ内蔵 リアルタイムクロック内蔵 VCCが許容範囲外になると無条件にクロックおよびSRAMを書込み保護 VCC電源障害が発生した場合はバッテリ電源に自動切替え リセット出力をCPU監視機能として使用可能 割込み出力をCPUウォッチドッグタイマとして使用可能 工業用温度範囲：-40℃～+85℃ UL® (Underwriters Laboratories)認定		データ収集システム 火災警報器 ゲーム 産業用コントローラ PLC POS端末 RAIDシステムおよびサーバ ルータ/スイッチ

図

標準動作回路

アプリケーションノート

Application Note 202: NV SRAM Frequently Asked Questions - DS3045W (English only) Application Note 2077: Using Dallas Semiconductor NV SRAMs in RAID Applications - DS3045W (English only) アプリケーションノート3693：マキシムがシングルピースNV SRAMモジュールの設計を選択する理由 - DS3045W Application Note 3759: Timing Considerations When Using NVSRAM - DS3045W (English only) Application Note 3954: Characteristics of Manganese Lithium (ML) Batteries - DS3045W (English only) Application Note 4289: Low-Temperature Data Retention in Nonvolatile SRAM - DS3045W (English only)

評価キット

なし

信頼性レポート

信頼性レポート： DS3045W.pdf (English only) UL® (Underwriters Laboratories)認定

ソフトウェア/モデル

なし

オーダー情報

注： 製品購入のための方法およびリンク：http://japan.maxim-ic.com/sales 必要な情報が見つかりませんか？マキシムのアプリケーションエンジニアに質問してください。通常翌営業日以内に、製品を探すための専門的なお手伝いをします。 型番サフィックス：TまたはT&R = テープ&リール、 + = RoHS/鉛フリー、# = RoHS/鉛免除。詳細：フルデータシートまたはマキシム製品の型番の見方を参照。 *パッケージの中にはいくつかのバリエーションがあるものがあり、図面に記載されています。｢パッケージコード/バリエーション｣は製品が使用しているバリエーションを示しています。型番サフィックスにある「+」、「#」、「-」はRoHSステータスを表わすことに注意してください。パッケージ図面は異なるサフィックス文字を示すことがあります。

この製品は販売しておりません。

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新製品プレスリリース 2005-10-31

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