自動試験装置(ATE) - 製品リスト



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マキシム > ソリューション > 自動試験装置(ATE)

遅延ライン

データシート

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タイトル/製品

主な特長

QV PDF

5.0V 8ビットプログラマブルタイミング素子
DS1124

より高い解像度のディスプレイを実現、大型LCD TVでの水平同期(HSYNC)パルスの遅延に最適

QV PDF

10タップ、シリコンディレイライン
DS1110

QV PDF

8ビットプログラマブルタイミング素子
DS1023

QV PDF

プログラマブル8ビットシリコンディレイライン
DS1021, DS1021-25, DS1021-50

Key Specifications: Delay Lines (Programmable)

Part Number

Functions

Number of Program Steps

Program Step Size (ns)

Minimum Delay or Pulse Width (ns)

Maximum Delay or Pulse Width (ns)

Program Interface

Supply Voltage (V)

Variation in Supply Voltage

Package

Smallest Available Package (max w/pins) (mm²)

DS1124

•	Delay Line

256

0.25

83.75

3-Wire Serial

±5%

µMAX/10

DS1021-25

•	Delay Line

256

0.25

3-Wire Serial
8-Bit Parallel

±5%

SOIC(W)/16

111

DS1021-50

•	Delay Line

256

0.5

138

3-Wire Serial
8-Bit Parallel

±5%

SOIC(W)/16

111

See All Delay Lines (Programmable) (12)

Key Specifications: Delay-Lines (Non-Programmable)

Part Number

Functions

Number of Taps

Available Total Delays (ns)

Supply Voltage (V)

Variation in Supply Voltage

Package

Smallest Available Package (max w/pins) (mm²)

DS1110

•

Tapped

50 to 500

±5%

SOIC(W)/16
TSSOP/14

See All Delay-Lines (Non-Programmable) (6)